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　2013年6月26日、特許庁は、「発明の単一性の要件」、「発明の特別な技術的特徴を変更する補正」（いわゆるシフト補正）の審査基準について改訂を行いました。

　改訂の概要は以下の通りです。

1．「発明の単一性の要件」の審査基準について

　以下の(1)及び(2)の手順により、特許法第37条の要件以外の要件を審査する対象を決定するとしています。

　(1)特別な技術的特徴（STF）に基づく審査対象の決定

　特許請求の範囲の最初に記載された発明又はその発明特定事項を全て含む同一カテゴリーの発明のうち最初の一系列（※）の発明について特別な技術的特徴（STF）の有無を判断し、「STFを発見するまでにSTFの有無を判断した発明」及び「最初に発見されたSTFと同一の又は対応するSTFを有する発明」を、審査対象としています。

（※）請求項の番号の最も小さい請求項に係る発明を順次選択して形成される系列を、便宜上「最初の一系列」という。

　(2)審査の効率性に基づく審査対象の決定

　但し、まとめて審査を行うことが効率的な発明については審査対象に加えるとして、要件の緩和が行われています。

　例えば、

　(a) 特許請求の範囲の最初に記載された発明の発明特定事項を全て含む同一カテゴリーの発明。

　ただし、課題や技術的関連性が低い発明は除かれています。

　(b) 上記(1)において審査対象とした発明を審査した結果、実質的に追加的な先行技術調査等を必要とすることなく審査を行うことが可能な発明。

2．「発明の特別な技術的特徴を変更する補正」の審査基準について

　補正後の特許請求の範囲が補正前の特許請求の範囲に続けて記載されていたと仮定したときに、改訂後の「発明の単一性の要件」の審査基準によって審査対象となる補正後の発明については、特許法第17条の2第4項の要件を問わないとされています。

3．「審査の進め方」の審査基準について

　「審査の進め方」の審査基準についても、関連箇所の改訂を行われています。

（参照元）http://www.jpo.go.jp/cgi/link.cgi?url=/rireki/what.htm